NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test SystemAET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System
所属分类：解决方案
上传者：wwei
文档大小：5016 K
标签：NI HIL测试硬件在环测试
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文档介绍：NI-Hardware-in-the-Loop (HIL) Test System 硬件在环测试（Hardware in the Loop, HIL），是指将真的控制器连接仿真的被控对象（用实时仿真硬件来模拟），以一种高效、低成本的方式对控制器进行全面测试。乘着智能汽车的风口，HIL（硬件在环测试）被业界所熟知。更早以前，HIL测试主要用于航空航天行业，随着医疗、消费电子行业越来越多使用嵌入式软件，HIL测试逐渐在这些行业普及开来。
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