2.3~2.7 GHz双模式低噪声射频接收前端全集成芯片的设计 | |
所属分类:技术论文 | |
上传者:aetmagazine | |
文档大小:669 K | |
标签:GaAs pHEMT低噪声放大器低噪声 | |
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文档介绍:基于GaAs pHEMT工艺设计了一款2.3~2.7 GHz双模式低噪声射频接收前端全集成芯片。该接收前端芯片包含一个单刀双掷(SPDT)收发开关及一个带旁路功能的低噪声放大器。一方面,采用带源级电感负反馈的共源共栅结构实现了放大器模式,将SPDT开关作为放大器输入匹配网络的一部分,一体化优化设计获得最少元件及较高Q值的输入匹配网络,进而实现低噪声、高增益和良好的输入回波损耗匹配;另一方面,采用多组开关联合实现了旁路功能用于衰减高输入功率的射频信号。测试结果表明,在2.3~2.7 GHz的宽频带范围内,实现的接收前端芯片在LNA模式下的噪声系数可达到1.53~1.64 dB的较低水平,且增益在18.1~19.2 dB之间,在2.5 GHz时输入1 dB压缩点为-1.5 dBm;在旁路模式下,插入损耗在工作频段内维持在约6~7 dB的水平。 | |
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