应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器
所属分类：白皮书
上传者：Stone_Mei
文档大小：1015 K
标签：FPGA Quartus 虹科电子
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文档介绍：现今，电子测试工程师面临着大量多样化的数字接口带来的挑战。军事、航空、通信和汽车电子都同时使用工业标准和定制数字接口。专用特定接口的测试仪器和用于通用数字I/O接口的测试仪器可以支持以上大部分接口。专用测试仪器是非常昂贵的，通用数字I/O接口的测试仪器仅试用部分方案并且需要大量编程/调试工作，最终也会增加成本。然而，基于可编程FPGA的测试仪器可以提供成本合理的解决方案，并可选通用数字I/O接口还
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