选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口
所属分类：解决方案
上传者：bixd
文档大小：83 K
标签：自动测试系统
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文档介绍：高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环（HIL）测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项，能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。
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