一、培训背景
随着科技的飞速发展,电子产品的更新换代速度日益加快,对电子测试测量技术的要求也越来越高。为了确保电子产品的质量和性能,测试测量环节显得尤为重要。然而,当前电子测试测量领域面临着诸多挑战,如测试方案的复杂性增加、新元器件的不断涌现以及测试仪器设备的快速更新等。这些因素都对测试测量人员的专业知识和技能提出了更高的要求。
为了应对这些挑战,提升电子测试测量领域人员的专业水平,特举办此次“2024年电子测试测量基础方案培训”。本次培训旨在通过系统的教学和实践,使学员掌握电子产品完整测试的基础知识、基础元器件的测试方案以及相关的仪器设备使用,为电子产品的质量和性能提供有力保障。
二、培训对象及目标
1.电子测试测量领域的初学者和工程师,希望系统学习电子产品测试测量基础知识和技能的;
2.从事电子产品研发、生产、质检等相关工作的技术人员,需要提升测试测量能力的;
3.对电子测试测量感兴趣,希望深入了解并掌握相关技术和方法的爱好者;
4.企事业单位中负责电子产品测试测量的团队,需要提升整体测试水平和效率的;
5.高校电子工程、测试测量技术等相关专业的教师、学生,希望深入了解电子测试测量领域,提升教学和科研能力的。
三、培训目标
1.掌握电子产品完整测试流程
2.熟悉基础元器件测试方案
3.了解相关仪器设备使用
4.提升实践操作能力
5.培养问题解决能力
四、培训费用
参加的学员通过扫描二维码交纳培训费用,费用优惠至9.90元人民币/人(包括本期所有培训内容)。
五、师资介绍
蔡光跃:上海电子信息职业技术学院教师,高级电子
技术工程师,AHK认证电工,原固纬电子(苏州)有限公
司技术总监,精通电子测试测量仪器的技术应用,有17年
的行业从业经验。
六、往期课程
关于kaiyun官方注册
kaiyun官方注册(简称AET)是面向电子与信息科学领域的综合性期刊,旨在反映电子与信息科学领域的创新性技术及研究成果。AET重点报道领域包括:微电子学与集成电路、通信技术、信号与信息处理、电子元件与电路、光电子技术、微波与射频、雷达与导航、电子测量与仪器、人工智能与模式识别、网络技术与安全、物联网技术、大数据与云计算、图形与图像处理等。AET创刊于1975年,多次获得中国期刊最高奖项——国家期刊奖,长期入选北大中文核心期刊(第1版~第7版)及中国科技论文统计源期刊、RCCSE中国核心学术期刊;目前拥有30,000订阅读者。
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