芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现
2023年电子技术应用第2期
徐靖林，王栋，魏斌，王赟，窦志军，成嵩
北京智芯微电子科技有限公司，北京 100192
摘要：目前，芯片设计公司在对量产级的芯片进行样品验证时，传统的样品验证方法大多是基于芯片自身特点来设计相应的测试设备，然后通过测试夹具对芯片样品逐一测试，不同的芯片会设计不同的测试设备。提出了一种自适应且可同步测试的样品验证平台方案，既可以实现同时测试多颗芯片，也可以对不同接口的芯片进行测试；既可以进行可靠性实验测试，也可以进行其他功能的测试，大大节省了测试设备的维护成本，提高测试效率。
中图分类号：TN06
文献标志码：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223053
中文引用格式：徐靖林，王栋，魏斌，等. 芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现[J]. 电子技术应用，2023，49(2)：55-60.
英文引用格式：Xu Jinglin，Wang Dong，Wei Bin，et al. Design and implementation of adaptive and synchronous test function of chip sample verification platform[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(2)：55-60.
文献标志码：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223053
中文引用格式：徐靖林，王栋，魏斌，等. 芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现[J]. 电子技术应用，2023，49(2)：55-60.
英文引用格式：Xu Jinglin，Wang Dong，Wei Bin，et al. Design and implementation of adaptive and synchronous test function of chip sample verification platform[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(2)：55-60.
Design and implementation of adaptive and synchronous test function of chip sample verification platform
Xu Jinglin，Wang Dong，Wei Bin，Wang Yun，Dou Zhijun，Cheng Song
Beijing Smart-Chip Microelectronics Technology Co.， Ltd.， Beijing 100192， China
Abstract：At present, in chip design companies, sample verification is carried out for mass production chips. Most of the traditional sample verification methods design corresponding test equipment based on the characteristics of the chip, and then test the chip samples one by one through the test fixture. Different chips will design different test equipment. In this paper, an adaptive and synchronous test sample verification platform scheme is proposed, which can not only test multiple chips at the same time, but also test chips with different interfaces. It can not only test the reliability experiment, but also test other functions, which greatly saves the maintenance cost of test equipment and improves the test efficiency.
Key words :adaptive；synchronous test；sample verification；test platform
0 引言
随着芯片行业的快速发展，在芯片设计公司，芯片测试贯穿于整个设计生产过程中，测试验证是芯片设计中非常重要的一部分。当芯片量产回来，首要的任务是对芯片所有的功能和性能进行充分的测试验证，只有经过全面验证达到预期的设计指标，才能推进市场。而对于量产级的芯片，验证通常选取一定比例数量来进行抽样测试。
目前，传统的芯片样品验证，在行业内大多是基于自身芯片特征设计相应的测试设备，通过测试夹具来逐一测试，针对不同的芯片需要设计不同的测试设备。图1为传统的芯片样品验证单板测试电路结构。单板测试对于样品数量要求多、测试时间长的测试项目来说，搭建环境、测试仪器设备的利用率以及时间配置完全不占优势，大大降低了测试效率，导致项目周期延长。
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作者信息：
徐靖林，王栋，魏斌，王赟，窦志军，成嵩
（北京智芯微电子科技有限公司，北京 100192）
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