一款芯片从设计到流片再到量产，每个环节都需要测试。验证与测试贯穿整个流程，堪称责任担当，但测试方法的繁琐与高成本经常让人望而却步。 在即将举行的“NI芯片验证与电子测量技术峰会2021”，AET携手NI邀请业内专家专门讨论芯片验证的痛点及解决办法。您将了解到如何缩短测量周期适应不断变化的需求、同步多仪器测量程序、复用测量IP，以及如何在整个产品生命周期内快速访问和解析产品数据。
时间：10月21日13:00-17:00（周四）
地点：上海浦东海科雅乐轩酒店2F华夏厅（地铁13号线中科路）