光学元件的“微缺陷”及产生影响
2021-08-21
来源:光电资讯
其中瑕疵问题主要原因是光学元件在制作过程及时运用抛光技术,也容易因为工艺操作不当,使其表面还可能存在划痕、气泡、麻点多种 缺陷问题,这类微缺陷会直接影响光学元件的质量,甚至影响光学系统正常使用,使得光学仪器和设备难以顺利应用在具体工作当中。
由此可以看出,在光学元件制作环节,应该高度重视其表面微缺陷问题的控制,利用可视化检测方法能够提高元件质量检测效率,因此需要对检测技术具体应用进行分析。
如果光学元件的外表存在微缺陷问题,就会导致光学系统整体质量受到影响,具体而言主要表现在如下方面:
第一,发出光束的质量达不到要求,因为检测光学元件时,缺陷处能够产生光线散射这一效应,光束通过缺陷位置,可能损失过多光束能量,导致光束质量达不到要求;
第二,使缺陷位置出现热效应现象,因为缺陷部位会吸收大量热,就会出现效应热力,进而导致局部变形;
第三,导致其他元件受损,如果缺陷处衍射光线,还能使其他元件难以接受均匀形式光照, 如果强度高于元件承受范围,那么就会损毁元件,光学系统也会崩溃;
第四,影响系统精度,当缺陷处出现衍射现象,那么就会产生干扰, 形成噪声光斑,导致光束自然聚集,灼伤元件。
爱丁堡(南京)光电设备有限公司的光学表面缺陷检测机系列能够帮助广大用户解决光学元件表面缺陷检测的问题。
本站内容除特别声明的原创文章之外,转载内容只为传递更多信息,并不代表本网站赞同其观点。转载的所有的文章、图片、音/视频文件等资料的版权归版权所有权人所有。本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如涉及作品内容、版权和其它问题,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以便迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。联系电话:010-82306116;邮箱:aet@chinaaet.com。