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讯石专访 | 上海菲莱:打造先进老化可靠性测试平台 保障光芯片高品质和一致性

2021-03-27
来源:与非网

  讯石专访光芯片Wafer/Die/COC老化和测试装备及服务提供商—上海菲莱,了解芯片检测验证对于光芯片和光通信网络的价值。

  ICC讯(编辑:Cecilia) 如今,光网络正在演进为新一代具备数字化和综合承载能力的全光底座,给光通信产业链带来新一轮发展机遇。近日,讯石采访了光芯片Wafer/Die/COC老化和测试装备及服务提供商—上海菲莱测试技术有限公司(简称上海菲莱),了解芯片检测验证对于光芯片和光通信网络的价值。

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  上海菲莱副总经理刘力波介绍:公司成立于2018年,定位于光芯片(从wafer到COC)的测试以及AOI检测,并设有菲莱科技、菲光科技两个自主品牌,专注于为客户提供专业的光芯片工艺、测试、老化及可靠性验证设备和代工服务,面向3D传感领域,消费电子和光通讯领域,支持诸多光芯片(VSCEL/DFB/DBR/Pump Laser/Silicon photonics等)。

  目前公司成功与知名设备大厂建立稳定的合作关系,向其销售的可靠性测试设备已超过100台。光模块是光网络的核心部件,光芯片则为光模块提供传输能力,其的使用寿命和工作性能影响光网络连接质量。严格、高效的芯片检测和可靠性验证,是保障产品一致性和高品质的关键工序。光通信产业曾多次迭代,合格的高速光模块必须经受苛刻的品质验证,光芯片作为最大的故障来源是首要检测对象。而当前多数光芯片厂商无法覆盖全部环节,特别是芯片级的老化和可靠性测试,这给上海菲莱的专业检测服务提供市场空间。

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  菲莱专利与证书墙刘力波表示,针对光通讯市场旺盛需求和工艺特点,上海菲莱提前布局团队、产品和服务。公司现有员工90余人,包括一只技术精湛的研发团队,在光芯片制造领域有丰富的从业经验,核心技术人员长期从事光芯片后道相关工艺、测试及可靠性研究,对光芯片生产制造工艺和应用有深刻的理解。

  在产品方面,公司开发的VCSEL测试系统支持LIV+光谱测试,CW、QCW条件可自由配置,使用TEC+水冷进行温度控制,温度稳定性高,可控范围大,可适用于Wafer/Die/COB封装单个VCSEL或VCSEL阵列测试。

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  COC测试台(左) 和CCO老化系统(右)针对光芯片常用的老化测试,公司推出了中、低功率激光器老化平台,该平台采用远超20000小时运行的成熟软件,支持平台预警,数据实时提示和上传。温控系统为独立加热系统或加热制冷系统,灵活配置不同温区条件。该平台具有COC在线光功率监控系统,公司是国内唯二家能出货带有此功能的测试设备厂商,2020年还获得了欧盟认证。

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  无锡基地产线上海菲莱副总经理刘力波表示:激光器老化平台平台采用全自动生产调试,可实现2个月内快速交付,目前已达到100台以上批量交付运行。除此之外,上海菲莱还推出测试校准系统、精密家具,针对COB、TO封装产品的烤箱式老化系统,旨在为客户提供完整的光芯片测试服务。

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  武汉洁净车间公司预计,光通讯核心光芯片国产化程度持续上升,突破多款高速光芯片国外垄断,公司紧抓市场机遇,在上海、天津、无锡、武汉设立公司,打造3000平方米的无锡制造服务基地,该基地配备一个600平方米的万级净化车间,以及3000平方米的武汉制造服务基地,该基地同样配备1300平方米的千级、万级净化车间。上海菲莱还坚持测试设备核心零部件的自主可控,开发低成本的驱动电源、自主设计精密夹具,以及开发稳定、恢复和易纠错的系统软件,最大保障程度保障设备服务的可靠性。

  当前,光芯片产业链正在持续迭代演变,上海菲莱将坚守在关键的配套检测环节上,打造先进的光芯片老化和可靠性测试服务平台,帮助光芯片产业和客户实现未来更大的市场价值。


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