kaiyun官方注册
您所在的位置: 首页> 测试测量> 设计应用> 采用矩阵递归的最小测试用例集生成算法
采用矩阵递归的最小测试用例集生成算法
2020年电子技术应用第4期
黄孝伦,王 东
重庆市卫生信息中心,重庆401120
摘要:符合MC/DC准则的最小测试用例集算法具有重要的实用价值。首先将布尔表达式转换为语法二叉树,然后采用矩阵组合逻辑运算方法逐层递归,从而获得完备的MC/DC最小测试用例集。经验证,矩阵组合逻辑运算方法是合理的、正确的。该方法对于非平凡布尔表达式可快速获取完备的MC/DC最小测试用例集,同时也可以处理带耦合条件的复杂布尔表达式。
中图分类号:TN06;TP301.6
文献标识码:A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.191029
中文引用格式:黄孝伦,王东. 采用矩阵递归的最小测试用例集生成算法[J].电子技术应用,2020,46(4):71-74.
英文引用格式:Huang Xiaolun,Wang Dong. Algorithm of minimum test case set generation using matrix recursion[J]. Application of Electronic Technique,2020,46(4):71-74.
Algorithm of minimum test case set generation using matrix recursion
Huang Xiaolun,Wang Dong
Chongqing Health Information Center,Chongqing 401120,China
Abstract:The algorithm of minimum test case set conforming to MC/DC criterion has important practical value.Firstly,the Boolean expression is transformed into a syntax binary tree,and then the matrix combinational logic operation is used to recurse layer by layer to obtain a complete set of MC/DC minimum test cases.It is proved that the method of matrix combinational logic operation is reasonable and correct.The method can quickly obtain complete MC/DC minimum test case set for nontrivial Boolean expressions,and can also deal with complex Boolean expressions with coupling conditions.
Key words :MC/DC;test cases;coupling conditions;recursion;algorithms

0 引言

更改条件/判定覆盖(MC/DC)准则是一种软件结构覆盖性测试准则,非常适合大型的软件测试领域,如国防、航空航天领域[1-2]。MC/DC与语句覆盖、条件覆盖、判定覆盖等比较,能大幅减少测试用例数,如测试系统中有10个判定条件时,条件组合覆盖需要1 024个测试用例,而MC/DC只需要11~20个测试用例[3-4]。在国内MC/DC最小测试用例集生成算法的相关研究中,比较典型的是最小真值表法[5]和快速生成法[6],但这两种算法只适合处理非耦合条件的布尔表达式。也有学者将MC/DC准则应用于带弱耦合条件和强耦合条件的布尔表达式中[7]。本文结合矩阵方式,从布尔表达式的语法二叉树的叶子节点依次递归至根节点,直接生成完备的最小化测试用例集。

1 算法相关描述

布尔表达式相关概念:条件表示不含有布尔操作符号的布尔表达式,记为Pi(1≤i≤n)。判定表示由条件Pi和若干布尔操作符号所组成的一个布尔表达式。

MC/DC覆盖准则[8]:(1)程序中,每个入口点和出口点至少被调用1次;(2)程序中判定的每个条件的所有取值至少出现1次,且能独立影响该判定的输出;(3)每一个判定的所有可能的输出结果至少产生1次。

Chilenski原则[9]:对于一个具有n个条件的判定,满足MC/DC准则的测试用例至少有n+1组。

MC/DC对[10]:一个MC/DC对是一对真值向量,该向量中一个条件值变化时可使得判定有不同的结果。

jsj2-gs1-s1.gif

矩阵组合逻辑运算规则:将矩阵的条件部分进行两两组合,同时将结果部分按逻辑运算符进行逻辑运算,如式(1)所示:

jsj2-gs1.gif

语法二叉树:将一个判定从左到右依次转化为对应的语法二叉树,其中条件Pi采用叶子节点表示,and、or等逻辑运算符采用非叶子节点表示。以(P1and P2)and(P3or P4)为例,其对应的语法二叉树如图1所示。

jsj2-t1.gif

jsj2-t1-x1.gif

语法二叉树递归规则:从叶子节点开始往根节点逐层递归。左、右子树为叶子节点时,按“语法二叉树与矩阵对应关系”获得对应矩阵。若某一子树的左子树或右子树为非叶子节点时,利用该子树的左、右矩阵,按“矩阵组合逻辑运算规则”进行运算:若为and运算,先将左矩阵中每一行与右矩阵中结果为1的行进行运算,然后将右矩阵中每一行与左矩阵中结果为1的行进行运算,最后合并运算结果;如为or运算时,选取相应矩阵中结果为0的行进行运算。运算结果即为该子树对应的判定的最小测试用例集。递归到根节点时,即获得整个判定的最小测试用例集。

命题 按语法二叉树递归规则可得到MC/DC最小测试用例集。

证明 以n表示语法二叉树的高度,当n=2时,左、右子树为叶子节点,可直接获得判定的矩阵,即最小测试用例集,结论成立。当n>2时,由于该子树的左、右矩阵符合Chilenski原则,因此左、右矩阵的行集合其实就是MC/DC对集合。左、右矩阵按“矩阵组合逻辑运算规则”运算时,以and运算为例(or运算同理),左矩阵中MC/DC对分别与右矩阵中结果为1的行进行运算(此处只证明合理性,因此右矩阵中有多个结果为1的行时,只选取其中一行运算即可。实际操作时,结果为1的行均进行运算,这样可获得完备的最小测试用例集),实际上只是在该MC/DC对中增加了右矩阵中的同一组条件,MC/DC对数量不变。同样原理,将右矩阵中MC/DC对与左矩阵中结果为1的行进行运算后,该MC/DC对中增加了左矩阵中的同一组条件,MC/DC对数量不变。然后合并运算结果,此时针对左、右子树中条件的MC/DC对构造完毕,即该子树的最小测试用例集构造完毕。递归至根节点时,就可获得针对全部条件的MC/DC对,即该语法二叉树的MC/DC最小测试用例集,证毕。

2 算法设计与验证

2.1 算法步骤

按照上述规则及定义,MC/CD最小测试用例集的生成算法步骤如下:

(1)将判定转换为语法二叉树;

(2)从叶子节点开始,按“语法二叉树递归规则”向根节点逐层递归,递归过程按“语法二叉树与矩阵对应关系”采用矩阵表示子树,并按“矩阵组合逻辑运算规则”进行运算获得子树对应的矩阵;

(3)递归至语法二叉树的根节点时,算法结束。

2.2 算法验证

2.2.1 零耦合条件的判定的验证

jsj2-2.2.1-x1.gif

jsj2-2.2.1-x2.gif

2.2.2 带耦合条件的判定的验证

带耦合条件的判定是指判定中存在部分重复条件。以(P1and P2and P3) or (P1and (P2and P4))为例,条件P1、P2重复出现(判定中重复出现的条件采用P1′、P2′表示)。按照算法步骤先转化为语法二叉树,如图2所示。

jsj2-t2.gif

jsj2-t2-x1.gif

jsj2-t2-x2.gif

在处理带耦合条件的判定时,在2.1算法步骤中增加两个规则:(1)一致性规则。在递归过程中遇到重复条件时,为保证重复条件取值的一致性,在矩阵中选择重复条件取值一致的MC/DC对进行运算。(2)构造规则。为了保证一致性,矩阵中MC/DC对数量受到了限制,不能满足Chilenski原则,因此需要通过构造方式来满足该原则。以左矩阵中与重复条件相关的MC/DC对为基础,补充构造右矩阵中条件,构造时需遍历相应子树进行正确性验证。构造完右矩阵中条件对应的MC/DC对后,在其基础上反转非重复条件,构造左矩阵中的MC/DC对。

3 实验分析

最小真值表法、快速生成算法等算法都是依据判定中的多种条件不断进行判断、归约,从而依次生成每个用例。本算法从语法二叉树的叶子端向根节点递归,每次递归得到的都是当前子树的MC/DC最小测试用例集,其测试用例集始终限制在最小维度,而且递归过程只需进行简单的矩阵组合逻辑运算,因此,在手动生成测试用例方面更快速、简洁、直观。最小真值表法、快速生成算法等算法只能获得唯一一个最小测试用例集,无法得到其余的最小测试用例集。保证冗余的测试用例是有必要的[12]。在2.2.1的验证中,本算法同时生成了两个最小测试用例集,可以证明该判定有且仅有这两个最小测试用例集,这表明本算法生成了完备的最小测试用例集,其可在不影响测试组大小范围的情况下有效提高错误检测效率。同时,在进行矩阵组合逻辑运算时,任意选取左或右矩阵中结果为1(and运算符)或0(or运算符)的一行进行运算,即可获得唯一的最小真值矩阵。

在判定(零耦合条件)的唯一最小测试用例的自动生成所需时间方面,本算法首先生成语法二叉树,然后由叶子节点向根节点进行递归,由于左、右子树可以实现并发递归,因此对于左、右子树较对称的、叶子节点较多的语法二叉树而言,其所需的时间优于快速生成算法,具有快速生成测试用例的优势。算法生成时间比较结果见表1,其中非布尔表达式分别为:(1)(P1or P2) and (P3and P4);(2)(P1and P2and P3) or (P4and P5);(3)(P1and P2and P3) or (P4and (P5and P6));(4)(P1and P2and (P3or P4)) or (P5and (P6and P7or P8))。但是,本算法需要存储空间存储矩阵,其对存储空间的要求高于快速生成算法。

jsj2-b1.gif

最小真值表法、快速生成算法等算法只适合处理由标准运算符and、or构成的零耦合条件的判定,规避了对带耦合条件的判定的分析。本算法适用于存在耦合条件的判定的分析,其在生成测试用例过程中虽需要遍历语法二叉树进行验证,但生成的测试用例集满足MC/DC要求,且遍历时只需对部分子树进行遍历,因此数量远小于全遍历情况,对带耦合条件的判定的分析具有一定借鉴意义。与谢祥南等[7]的耦合条件的MC/DC测试用例集生成算法相比,本算法比较简洁直观,但对于复杂的强耦合条件的判定的分析,本算法还有不足,需要进一步深入研究。

4 结论

不同测试工具对于代码的覆盖能力是有区别的,通常能够支持MC/DC的测试工具的价格极其昂贵[13]。本文提出的算法基于语法二叉树,从叶子节点开始采用符合MC/DC覆盖准则的矩阵进行递归,可快速、直观、有效地处理零耦合条件的判定,并生成完备的的最小测试用例集,适合自动或手动生成。对于带耦合条件的复杂判定,本算法也有一定适用性,其生成的测试用例集合远远低于全遍历情况,这在减轻测试工程师工作量、提高工作效率方面有一定借鉴意义。下一步将对带耦合条件的判定做进一步研究,提高其算法的生成效率。

参考文献

[1] 朱少民.全程软件测试(3版)[M].北京:人民邮电出版社,2019:130-132.

[2] 王吉茂,尹平.软件测试用例执行优化研究[J].计算机工程与设计,2013,12(1):4242-4246.

[3] 王瑞,田宇立,周东红,等.面向故障定位的基于MC/DC的测试用例约简方法[J].计算机科学,2015,42(10):170-174.

[4] DONG L,LINGHUAN H,RUIZHI G.Improving MC/DC and fault detection strength using combinatorial testing[C].2017 IEEE International Conference on Software Quality,Reliability and Security Companion(QRS-C).Prague,Czech Republic:IEEE,2017:84-88.

[5] 朱晓波,杨伟民,叶芯.更改条件/判定覆盖最小真值表生成算法及其应用[J].上海理工大学学报,2007,29(1):84-88.

[6] 段飞雷,吴晓,张凡,等.MC/DC最小测试用例集快速生成算法[J].计算机工程,2009,35(17):40-45.

[7] 谢祥南,魏延栋.耦合条件的MC/DC测试用例集生成算法[J].计算机系统应用,2017,26(6):164-169.

[8] 黄孝伦.基于图的MC/DC最小测试用例集快速生成算法[J].计算机系统应用,2012,21(11):145-147.

[9] SEKOU K,ALEXIS T,MIHAELA B.Practical methods for automatic MC/DC test case generation of Boolean expressions[C].2015 IEEE Autotestcon.National Harbor,MD,USA:IEEE,2015.

[10] 周睿.基于Java编译器的MC/DC测试覆盖方法设计[J].软件导刊,2016,15(8):39-41.

[11] 袁军.基于MC/DC最小测试用例集设计方法研究[J].航空电子技术,2010,41(3):51-54.

[12] VILKOMIR S,BAPTISTA J,DAS G.Using MC/DC as a black-box testing technique[C].2017 IEEE 28th Annual Software Technology Conference(STC).Gaithersburg,MD,USA:IEEE,2017:25-28.

[13] 杨忆文.一种自动化测试系统中为I/O建模及约束提取的方法[M].北京:北京邮电大学,2014.



作者信息:

黄孝伦,王 东

(重庆市卫生信息中心,重庆401120)

此内容为AET网站原创,未经授权禁止转载。
Baidu
map