0 引言

集成电路的生产过程中，制造工艺会有一定的偏差，造成生产出的时钟模块的输出不符合要求^[1]。因此需要通过改变trim值调节时钟模块的相关参数，将其输出频率修调至目标频率范围，从而提高芯片良率^[2-3]。

进行修调时，当输出频率在目标频率范围之内时，认为修调成功，不再改变trim值，否则继续修改trim值直到修调成功或者达到最大修调次数。改变trim值的方法通常有两种。一种是遍历法，一种是二分法。假设trim值是N bit。使用遍历法时，trim值每次改变1，最大修调次数是2^N；使用二分法时，trim值每次改变2ⁿ，n为小于N的整数，最大修调次数是N。

遍历法控制简单，当遍历了所有的trim值时，能找到最优的trim值，但测试时间较长。相比遍历法，二分法中每次trim值的改变都会排除当前可取trim值范围内一半的trim值，整个过程中只取几个特殊的trim值，因此测试时间短，但存在可能找不到最优trim值的问题。当只要求把时钟频率修调到目标范围内且不需要寻找到最优trim值时，使用二分法可以节省较多的测试时间，降低测试成本，且N值越大，节省的时间越多。

本文利用二分法设计时钟模块的自动修调电路，可以对时钟模块进行快速修调，降低测试成本。

1 二分法原理

二分法常用于求函数零点的近似值，原理是：取函数f(x)零点所在区间[a，b]的中点，比较区间中点处的值f((a+b)/2)和0的大小，根据比较结果用(a+b)/2代替a或者b，重复上述步骤，使区间的两个端点逐步逼近零点，进而就可求得零点近似值。该方法的使用条件是：函数f(x)在区间[a，b]上连续且f(a)·f(b)<0。

将二分法应用到时钟模块的修调中，假设时钟模块可取的trim值范围是[trim_l，trim_h]，时钟频率和trim值的关系是f(trim)，目标频率范围是[f_l，f_h]。根据二分法的使用条件，可知，当[f(trim_l)-f_h]·[f(trim_h)-f₁]<0时，可以使用二分法来求满足条件的trim值。

另外，由于trim值是离散的，当 trim的step大于目标频率的变化范围时，可能不存在使时钟模块的输出处于目标频率范围内的trim值，如图1所示。

图1中trim step大于目标频率的变化范围，导致每个trim值都无法对应到目标频率范围内，找不到满足要求的trim值。因此设定的目标频率变化范围应该大于trim step并且在芯片正常工作要求的范围之内。

2 自动修调电路设计

自动修调电路主要由脉冲同步器Syn、计数器Counter、比较器Compare、修改trim值模块Adjust组成。修调电路的构造以及和外部ATE、时钟模块OSC的连接关系如图2所示，pulse是ATE提供的慢速脉冲，clk是需要修调的时钟，trim_value[N-1:0]是OSC模块的trim值。

修调电路的工作原理如图3所示，图中c1是在ATE提供的脉冲高电平期间对clk进行计数的计数值；c2是脉冲个数计数器。为了简化电路设计，不采用比较clk实际频率和目标频率范围的方法判断是否修调成功，而是将目标频率范围[f_l，f_h]转化成计数器c₁的目标取值范围[Llimit，Hlimit]，如果计数结束时c₁的值在[Llimit，Hlimit]之间，则认为修调成功。本文假设OSC输出时钟频率随着trim值的增加大致呈增加趋势。

trim的初始值设为中间值2^N-1，c₁和c₂的初始值设为0。

修调电路接收ATE提供的慢速脉冲pulse和OSC的输出时钟clk。在pulse的高电平期间对clk计数，高电平结束后，将计数值c₁与设定的计数值上下限比较。比较结果有三种情况:(1)c₁大于Llimit并且小于Hlimit，说明OSC输出频率处于目标频率范围，修调成功；(2)c₁大于上限Hlimit，说明OSC输出频率高于目标频率范围，将trim值向降低OSC输出频率的方向调整；(3)c₁小于Llimit，说明OSC输出频率低于目标频率范围，将trim值向增高OSC输出频率的方向调整。比较结果为(2)和(3)两种情况时，调整trim值之后重复上述步骤。如果输入N次慢速脉冲后仍然没有修调成功，那么认为不能通过改变trim值将时钟模块的输出频率修调到目标范围，修调失败。

3 慢速脉冲同步和测量误差

ATE输出的pulse和OSC输出的clk是异步关系，所以需要将pulse同步到clk时钟域之后使用。同步电路用两级级联的寄存器实现，如图4所示。

假设pulse宽度等于(m+n)T，其中m为任意正整数，n为小于1的任意实数，T为clk的周期。同步后的pulse_syn相对同步前的pulse脉冲宽度会有所改变，最大误差是pulse_syn的脉宽比pulse的脉宽近似多一个clk周期或者少一个clk周期，因此clk的计数结果cnt1与m+n的最大差值的约等于±1。

以m=2为例对同步前后的脉冲宽度进行分析，如图5所示。

当n=0时，pulse可能会被2或者3个clk上升沿采集到。被两个上升沿采到时，不会发生亚稳态，同步前后的脉冲宽度不变，如图5(a)所示；被三个上升沿采到时，脉冲的前后沿都会发生亚稳态，亚稳态稳定结果的随机性使得同步前后的脉冲宽度不同^[5]，如图5(b)～图5(e)所示。

从图5中可以看出当同步前的脉冲宽度等于2倍clk周期时，同步后的脉冲宽度可能是1、2、3个clk周期，同步造成的脉宽误差最大是1个clk周期。当n≠0时，pulse可能被 2个或者3个或者4个clk上升沿采集到，分析方法同n=0，同步后脉宽最大误差约等于1个clk周期。

下面分析因为脉宽变化导致的clk频率测量误差。

同步之前的脉冲宽度为：

由式(5)可知，ATE提供的脉冲宽度越宽，频率测量误差越小。

增加脉冲宽度可以减小测试误差，但同时也会增加测试时间，因此需要在测试误差和测试时间之间进行平衡。

另外，为了保证trim值的每次改变都能有效地体现出来，不被脉冲同步所造成的误差掩盖，在脉冲宽度不变的情况下，trim值最低位的改变应使计数器c1的值至少改变2。为了满足该要求，设脉冲宽度最少应该是b s。假设OSC的trim step是a Hz，那么：

式中单位是秒。

通过上述分析，可知慢速脉冲的宽度应该由测量误差和trim step共同决定。

4 仿真结果

根据二分法原理设计时钟模块自动修调电路，被修调的时钟模块的频率和trim值是单调增加的关系，trim位宽为5，trim step大约是f_step=1.5%×2 MHz。目标频率是f_target=2 MHz，接收的频率范围是f_target±2%，即1.96 MHz～2.04 MHz，要求测量误差小于±1%。由式(1)、式(5)得到的最小脉冲宽度为100/(1.96×10⁶)≈51.02 μs；由式(6)得到的最小脉冲宽度为2/f_step=2/(2×10⁶×0.015)≈66.7 μs。因此最小脉冲宽度为66.7 μs。为了减少测量误差且测试时间在承受范围内，此处选择500 μs的脉冲宽度。计数器c₁的上下限分别对应于2.04 MHz和1.96 MHz，它们的值分别是1 020和980。仿真结果如图6所示，为了方便观察，将c₁的值转化模拟波形显示。图6(a)中在输入第3次脉冲后success信号变高，表示自动修调成功。修改时钟模型后再次进行仿真，如图6(b)所示，在最大修调次数，即输入第5次脉冲后fail信号变高，表示时钟模块的输出偏离目标范围太多，无法通过修调使其输出频率满足要求。

从仿真结果可以看出，对于trim位宽为5的时钟模块，设计的自动修调电路能够在不多于5次输入脉冲后给出修调结果。

5 结论

对集成电路的时钟模块进行测试时，需要寻找处于目标频率范围的trim值。为了减少测试时间，设计自动修调电路，修调电路使用二分法改变trim值，二分法相对遍历法具有更快的收敛速度，trim值的变化范围越大，二分法在测试时间上的优势越明显。ATE提供的最小脉冲宽度应该由允许的测量误差和trim step共同决定。

参考文献

[1] 葛南，陈东坡.ATE测试中的Bandgap Trim技术研究[J].微电子学与计算机，2015，32(4)：70-78.

[2] 葛南.DC_DC Buck芯片ATE测试中的Trim技术研究[D].上海：上海交通大学，2015.

[3] 李侠.离线式开关电源控制芯片功率器件及部分子电路设计[D].成都：电子科技大学，2011.

[4] 李文昌，王继安，李威，等.修调技术在高精度集成电路中的实现[J].微处理机，2006(1)：1-2.

[5] 吴厚航.深入浅出玩转FPGA [M].北京：北京航空航天大学出版社，2010.

作者信息：

孟 博1，2，颜 河1，2，管金凤1，2

(1.北京智芯微电子科技有限公司 国家电网公司重点实验室 电力芯片设计分析实验室，北京100192；

2.北京智芯微电子科技有限公司 北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心，北京100192）