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抢攻IoT晶片商机 致茂推新测试解决方案 SEMICON China盛大展出

2018-05-12
关键词: IOT 晶片 SEMICONChina

  致茂电子为量测&智动化Turnkey解决方案领导厂商,将于3月上海SEMICON China展出最新的开云棋牌官网在线客服测试解决方案,抢攻IoT及智慧汽车电子晶片市场。

  Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统,可提供高达2048个I/O通道且数位通道速率(data rate)最高可达1Gbps的资料速率(data rate)、最高512个平行测试待测物的能力及512MW测试资料记忆体深度,以提供最低的测试成本且满足复杂SoC的测试应用需求。应用范围包含微控制器(MCU)、数位音讯、数位电视、机顶盒、数位信号处理器(DSP)、网路处理器(Network Processor)、现场可程式逻辑门阵列(FPGA)及消费性电子IC应用市场等测试方案。

  HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号解决方案,为Chroma 3680的选购模组,拥有可同时输出的8个差动源模组(AWG)和同时接收的8个差动测量模组(DGT),且在每一个差动源模组(AWG)上能提供高达400Msps的取样频率和在每一个差动测量模组(DGT)上能提供高达250Msps的取样频率,具有高规格、低成本和多功能等优势,适用于标准的基频、视讯、音讯、图形、STB以及DTV等广泛的混合讯号测试应用。

  搭配于3680上所开发的CRISPro软体套件,让使用者可以用图形化介面(GUI)或程式语言做测试程式的开发,加上支援可同时测试(Concurrent Testing)的功能,以降低测试程式的时间,加快产品的量产速度。

  Chroma 33010 PXIe 数位 IO Card:为PXIe 架构,且具备自动测试系统(ATE)功能,Chroma除提供传统之ATE自动测试系统(Chroma 3380D:256 CHs / 3380P:512 CHs / 3380:1280 CHs ) 外,亦提供符合未来PXI 测试方案发展应用之趋势及需求,以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势,尤其在 IoT 及车用感测IC测试上,PXI/PXIe架构在开云棋牌官网在线客服测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器、微机电(MEMS)感测器、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。

  Chroma 3200L-6光纤DC/RF测试系统,应用于光学模组(OSA, box package)的DC与RF检测,具备光纤自动清洁与检测、光纤视觉定位与自动插拔、探针视觉定位与接触控制,探针重复精准度可达正负40um,支援工程实验单站式与量产整线式两种模式,提高导入弹性,大幅降低人力与测试损耗成本。

  Chroma开云棋牌官网在线客服测试设备整合MP5806 射频(RF) ATE测试专用机,涵盖6GHz范围内的无线测试规范,拥有4/8 RF Port及120MHz 频宽。应用范围包含WiFi/BT/GNSS/NB-IoT/LoRa等无线通讯与IoT应用及RF元件测试( PA/LNA/Converter等),提供RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)测试解决方案。

  2018 SEMICON China (3月14-16日),致茂电子将于上海新国际博览中心(SNIEC)(摊位号: 3165)展出崭新的开云棋牌官网在线客服测试解决方案,致茂电子诚挚的邀请您一同体验量测新趋势,期待在此年度盛会中与您见面。


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