kaiyun官方注册
您所在的位置: 首页> 测试测量> 解决方案> 是德科技高速数字测试技术巡讲技术资料

是德科技高速数字测试技术巡讲技术资料

2016-01-19

kaiyun官方注册编辑部承办的“是德科技高速数字测试技术巡讲”已经圆满结束。ChinaAET携手是德科技走遍西安、武汉、南京、成都四站城市,为四地电子工程师、研发人员带来了一系列电源、示波器领域的精彩演讲。

讲义:

选择最好的工具进行电源完整性测试 (下载

示波器的高级射频测试能力 (下载

示波器的高级触发功能助您快速调试并优化设计 (下载

云计算与大数据时代的高速数字测试挑战 (下载

PAM4信号的产生与分析 (下载

利用AWG产生多路复杂信号 (下载

Type-C 接口技术演进与完整的测试方案 (下载

示波器的高级射频分析能力 (下载

使用示波器查找并消除电路设计中的串扰 (下载

紧密结合的信号电源完整性仿真流程 (下载

从时域到频域的电源完整性测试 (下载



是德科技高速数字测试技术资料:

精确测量电源轨的四个技巧 (下载

完成理想的电源完整性测量 (下载

电源完整性测试应用笔记5992-0493CHCN (下载

电源完整性测量的考虑因素 (下载

真实干扰环境下的电源完整性测试 (下载

示波器在无线和射频测试中的应用 (下载

电源完整性测试白皮书 (下载

Debug Your Design As Never Before Using Advanced Oscilloscopes Triggering (下载

Power_Integrity_Workshop (下载

Advanced RF Measurements Webcast (下载

无线充电(是德科技) (下载












本站内容除特别声明的原创文章之外,转载内容只为传递更多信息,并不代表本网站赞同其观点。转载的所有的文章、图片、音/视频文件等资料的版权归版权所有权人所有。本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如涉及作品内容、版权和其它问题,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以便迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。联系电话:010-82306116;邮箱:aet@chinaaet.com。
Baidu
map