罗德史瓦兹(Rohde & Schwarz，R&S)全新R&S ZNrun软体与R&S网路分析仪(VNA)搭配，将协助使用者快速完成多埠待测物的测试设定。使用者可透过网路分析仪或其他附加的测试设备，如R&S ZNB向量网路分析与ZN-Z84切换矩阵搭配，此时使用者可于ZNrun进行待测物特性的参数设定，接着ZNrun软体随即取得与测试设备的沟通，将所有的设定、执行与控制整合成测试程序，这个程序将大幅节省多埠元件特性测试的时间。
ZNrun软体特别适合产线的应用，速度是绝对的关键。此软体提供多埠待测物(DUT)与切换矩阵连接的解决方案，简化操作切换与位准切换的次数，大幅提升测试速度，特别是ZNB向量网路分析仪结合ZN-Z84或ZN-Z85切换矩阵的测试组合。
R&S ZNrun可节省复杂的多埠元件测试在校准上所花费的时间，此软体将清楚的显示哪些测试埠应连结到哪个校正标准或哪个测试埠的自动校正单元。此外，每个测试埠都可以颜色进行区隔、或使用者自行定义标签，将大幅提升辨识度。若于手动校正时，发现测试线材有缺陷、或使用了不正确的标准，亦可重复个别的校正步骤。
透过外部电脑执行的ZNrun软体，提供图形化的使用者介面，大幅简化复杂测试情境的设定与组态。除向量网路分析仪、切换矩阵与待测物外，此软体亦可与其他外部设备整合，如测试配置中外挂电源供应器。这些测试设定与组态都是独立的，当变动测试配置，使用者只需要在软体中选择新的测试设备，不需全部重新设定。
于产线端的日常应用，ZNrun提供简单明瞭的画面，直接显示每一个测试结果(pass/fail)，显示量产良率并统计总共多少待测物通过测试、多少待测物未通过测试。