CUPERTINO, Calif.– 2011 年9月19日——Advantest 集团（东京证券交易所：6857；纽约证券交易所：ATE）旗下企业惠瑞捷发布了业界首创可扩展、高性价比的测试机台系列，可用来测试28 纳米及更小尺寸工艺和3D 架构的芯片。

Smart Scale 系列是具备先进通道卡功能的创新一代“智能”测试机台，与惠瑞捷久经大生产考验的V93000 平台完全相容。智能测试意味着每个通道卡具有独立的时钟域，通过匹配受测器件的准确数据率要求，实现全面的测试覆盖率。配合电源调制、抖动注入和协议通讯等其他重要特性，系统级压力测试如今可在ATE 层执行，提高了故障模型覆盖范围。

“凭借我们创新的V93000 Smart Scale系列的测试系统和通道卡，惠瑞捷在智能测试解决方法方面取得领先，这些方法提供了定制的解决方案，可以为客户降低测试成本。”Advantest 集团旗下企业惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系统(SOC) 测试部执行副总裁)表示。

四个等级的Smart Scale 测试机台（A类、C类、S类和L类）分别有不同的测试头尺寸，使惠瑞捷可为每个客户提供最高效的特定应用解决方案。

Wagner 补充道：“由于每个等级的测试机台彼此完全相容，当芯片的产量在设备生命周期内变更时，用户可快速轻松地把开云棋牌官网在线客服器件从一个等级移至另一等级的Smart Scale机台。目前没有其他自动测试设备供应商有能力生产具有此功能的机台。”

惠瑞捷的独特技术提高了并行测试的能力，并带来了行业内第一个针对晶圆测试的全性能的解决方案,可以满足高阶的片上系统(SOC)器件、系统级封装(SiP)器件和晶圆级芯片尺寸封装(WLCSPs) 的重要性能的测试需求。

V93000 Smart Scale 测试机台推出同时，惠瑞捷还发布了三款新的数字通道卡。

新的Pin Scale 1600 数字卡和Pin Scale 1600-ME（存储器仿真）卡为每个数字通道提供了行业最广泛的能力范围。除了提供从DC 到每秒1.6 千兆比特（Gbps，早期系列的双倍速率）的数据率范围，这些卡还达到了先前通道卡密度的两倍或四倍。高度集成、小外型封装的新卡具有惠瑞捷clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™、PRBS per pin 和SmartLoop™ 等测试能力，可满足对称高速接口的测试要求。此外，这些卡具有精确DC 能力，并可执行高效的多路并行异步测试以及并发测试。

惠瑞捷的新款Pin Scale 9G 卡使实速测试具备了经济性。它_Pod将高达8 Gbps 的数据率和与Pin Scale 1600同样的per pin通用性相结合，尽量提高通道使用率，并尽量减少闲置资源。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的双向功能，以及单端和差分模式。还可执行有向量和无向量测试，满足绝大多数测试需要，包括面向设计验证的并行I/O 测试，以及大批量生产中的串行物理层(PHY) 测试。

关于Advantest集团旗下企业惠瑞捷

惠瑞捷制造先进的开云棋牌官网在线客服测试系统，为全球设计验证、特性化和大批量生产测试的领先企业提供解决方案。惠瑞捷提供用于多种片上系统(SOC) 测试解决方案，还有用于闪存、高速存储器和多芯片封装(MCP) DRAM 的存储器测试等可扩展平台。惠瑞捷还提供先进的分析工具，可加快设计调试和产量提升流程。如需了解有关Advantest集团旗下企业惠瑞捷的详细信息，可访问www.verigy.com。如需了解有关Advantest的信息，可访问www.advantest.com。