在完整功能测试的模式下，系统会将测试箱内的传感器及测试夹具稳定在一个设定的温度，同时运动控制系统会控制磁极沿着传感器磁感应方向做步进式移动，同时采集传感器的反馈信号作为原始数据，并根据特定的算法计算出传感器的标定参数，然后根据不同的传感器通讯协议将参数写入传感器的芯片，完成对传感器的标定。如果传感器标定需要考虑温度的影响，可以在低温和高温两个温度下进行相应的原始数据采集和标定处理，来进行温度的补偿校准，同时系统还可以对经过标定和校准的传感器进行全功能的检测，检查传感器是否符合生产要求，系统实现原理如图1所示。传感器的标定和检测流程都需要在高精度的位置控制环境下完成，本系统最高控制精度可以达到1μm。
硬件设计
系统在设计时选用了NI公司高精度、高速度的数字万用表卡完成数据采集。同时选用了NI公司数字I/O卡来完成对传感器、开关、按钮等状态信息的查询和继电器、电子锁等元器件的控制，并且将设备反馈信息及时反馈到上位机进行处理。针对被测传感器的多样性，系统设计了“柔性”的硬件平台，即为不同种类的传感器配置了不同规格的测试夹具或测试台，对于直线位置传感器，分别配置了75mm、150mm和225mm等多种规格的夹具，更换传感器时，只需要更换对应的夹具即可，对于角度位置传感器和旋转位置传感器，只需要更换测试台即可，灵活的硬件配置使系统具有良好的适应性和扩展性。
系统采用快速加热器对位置传感器及其测试环境进行加热。快速加热器是一种智能高低温吹风机，可以根据目标温度和当前温度的差异自动输出不同温度和不同流量的气体对物体进行加热或者制冷。
为了实时检测传感器的温度，在传感器旁设置了热电偶，待传感器稳定在目标温度以后，再控制滑台带动磁极在传感器上方移动。系统选用高精度的直线滑台来完成磁极的移动，由运动控制卡发送控制信号到滑台驱动器，滑台驱动器再控制滑台带动磁极移动，精度可以达到1μm，满足测试精度要求。该系统采用温箱结构，在操作台上设置一个盒式温箱，传感器的加热过程以及磁极的移动过程在温箱里完成。为了保证滑台不受温度影响，在测试箱内部，设置了Z型连接臂，将磁极固定在连接臂顶部，将连接臂底部伸出箱体外部与滑台相连，这种设计即保证了磁极移动的准确位置，又保证滑台不受温度变化的影响。
在测试箱体外侧还设置了电子锁，按下测试按钮后电子锁会自动将测试箱锁住，直到测试结束，电子锁自动打开，保证了在测试过程中操作人员的安全以及测试环境温度的稳定。
本系统还设计了看门狗，操作界面上的监控指示灯会实时显示系统操作状态，软件每隔2s向硬件发送系统状态信号，如果在30s内没有任何操作，系统将自动切断操作台的电源，保护系统。系统还设置了人性化的急停按钮，选用高性能的安全继电器，在发生紧急情况时按下急停按钮可以控制安全继电器切断工作台电源。
除此以外，系统还设计了RS-232、CAN总线、AS-I、Device-Net、ProfiBus等五种通讯方式，可以满足不同通讯协议的传感器的测试需求。
软件设计
系统测试软件包括两部分内容，一部分是系统正常运行的基本操作系统，我们选用目前应用最广泛的Windows操作系统;另一部分是测试软件的开发平台，我们选用NI公司的图形化编程语言LabVIEW结合测试流程执行管理软件TestStand，开发出一套多功能的平台式测试系统。本系统使用LabVIEW搭建人机交互界面，使用TestStand搭建测试流程执行序列，针对不同种类的传感器，可以在TestStand中配置不同的测试流程。每个测试流程都有对应的Sequence文件，通过在LabVIEW中调用TestStand运行引擎，加载Sequence来完成测试功能。更换传感器类型时，只需要加载不同的Sequence文件即可以完成对不同类型传感器的测试。测试流程如图2所示。
软件启动后，首先对系统硬件进行初始化，确保设备处于正常状态。初始化之后，操作员要将传感器放置到测试夹具上，在传感器底部设置了光纤传感器用来检测被测件有无。按下开始测试按钮后，快速加热器首先对传感器及其所处的环境进行加热，待传感器温度稳定后，开始对传感器进行标定。只有标定成功的传感器才能进行测试，如果标定不成功，则测试失败，记录测试数据和失败原因，完成本次测试。标定成功后，继续对被测件进行校准和测试，读取被测件的测试结果，将测试值与标准值进行比较，如果测试值在标准值范围内，则判定该产品为合格品，否则为不合格品，最后对测试数据和测试结果进行记录，输出报表，并且将测试数据存储到数据库中。