国产FPGA试用手记二(51硬核性能测试)
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IO口速度测试,使用以下程序测试高电平脉宽。
while(1)
{
P0 = 0xf;
P0 = 0x0;
}
同等条件下与其他MCU比较:
单片机/处理器 |
工作频率 |
高脉冲宽度 |
ASTRO 8051硬核 |
25MHz |
约1us |
ASTRO 8051硬核 |
50MHz |
约500ns |
ASTRO 8051硬核 |
100MHz |
约250ns |
STC89C516 |
11.0592MHz |
约2.16us |
NIOS II/e 32位软核 |
25MHz |
约2.5us |
NIOS II/s 32位软核 |
25MHz |
约160ns |
NIOS II/f 32位软核 |
25MHz |
约160ns |
在两次操作之间插入延时函数,分别延时delay(1)、delay(2)、delay(3)、delay(4)。测试延时函数如下:
void delay(uchar cnt)
{
uchar i =0;
while(i < cnt)
{
i++;
}
}
由于delay()函数调用一次会有一些额外开销(如赋初值等),所以我们通过不同延时值的实际延时差来看指令运行的速度。换句话说,对前面的程序,可以通过每次delay()函数的差值来计算每多执行一次i++和一次i 延时函数 ASTRO 8051硬核 NIOS II/s 32位软核 50MHz 100MHz 25MHz 50MHz Delay(1) 5.0us 2.5us 6.5us 4us Delay(2) 6.6us 3.3us 9us 6us Delay(3) 8.3us 4.2us 11.5us 7.5us Delay(4) 9.9us 5.0us 14us 9.5us i++与i 约1.63us 约0.83us 约2.5us 约1.25us 特权同学曾使用相同条件测试了51单片机,通常11.0592MHz下工作的51单片机每多执行一次i++和一次i 简单的一些性能测试,发现这个51硬核还是有花头的,至于稳定性和可靠性上还需继续验证和尝试。当然,本文的测试是使用了片内的存储器作为代码和数据存储,实际速度性能和存储器的性能关系非常大,是需要进一步考核的项目。 相关链接: 《NIOS2的GPIO操作速度》:http://blog.chinaaet.com/detail/10396.html