是德科技 高速数字测试技术巡讲——成都站
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发表于 2016/3/3 13:58:09
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Keysight Technologies (是德科技) 高速数字测试技术巡讲活动继续进行。
本次巡展我们将与您分享是德科技的最新产品和时下热点的测量应用。主要产品以示波器为主，主演技术包括云计算与大数据时代的高速数字测试、PAM4信号的产生与分析、利用AWG产生多路复杂信号、USB3.1与Type C、高级射频测试、电路设计中串扰的查找与消除、电源完整性等。我们期待与您在会议现场深入交流，期待您的参与！
时间 |
主题 |
08:15-09:00 |
注册签到 |
09:00-09:10 |
开场致辞 |
09:10-09:40 |
云计算与大数据时代的高速数字测试挑战 |
09:40-10:20 |
PAM4信号的产生与分析 |
10:20-10:30 |
休息与交流 |
10:30-11:15 |
利用AWG产生多路复杂信号 |
11:15-12:00 |
您必须了解的USB3.1与Type C |
12:00-13:15 |
午餐与休息 |
13:15-14:00 |
示波器的高级射频测试能力 |
14:00-14:45 |
使用示波器查找并消除电路设计中的串扰 |
14:45-15:00 |
休息与交流 |
15:00-15:45 |
紧密结合的信号/电源完整性仿真流程 |
15:45-16:30 |
从时域到频域的电源完整性测试 |
16:30-16:45 |
总结与幸运抽奖 |
AET报名签到礼品
《高速数字接口原理与测试指南》一本
杂志2016年（4——6期）
是德科技神秘礼品
？？？
